Olympus超聲測厚儀38DL PLUS既可與雙晶探頭一起使用，測量腐蝕的管道，也可與單晶探頭一起使用對薄材料或多層材料進行為的厚度測量。

艾因蒂克作為多家知名無損檢測設備供應商在中國地區的特約授權或代理，為中國用戶提供了全方位的無損檢測設備及解決方案。我們代理的品牌有：艾因蒂克PHASEYE FMC-64全聚焦超聲波相控陣探傷儀64/128PR、奧林巴斯無損檢測（Olympus NDT）、美國萬睿視（VAREX，原VARIAN和PE）平板探測器及射線管頭、瑞士COMET射線設備（包括德國YXLON便攜式射線機）、法國EFER工業內窺鏡、英國GAPGUN激光間隙測量儀、西班牙波控（WAVECONTROL）電磁強度測試儀EMF等設備的代理。

上海艾因蒂克銷售工業X射線探傷機，萬睿視（Varex）平板探測器（PaxScan® 1515DXT平板探測器、PaxScan®2520DX平板探測器、PaxScan®2530HE平板探測器、PaxScan® 1313DX平板探測器、DR-PaxScan®2530DX平板探測器、PaxScan® 1308DXT平板探測器、PaxScan®1308DX平板探測器、XRD1611平板探測器、XRD1621平板探測器、XRD1622平板探測器、XRD0822平板探測器、XRD3025平板探測器、XRD4343CT平板探測器、XRPad2 3025平板探測器、XRPad2 4336平板探測器）及直線加速器和X射線球管。

艾因蒂克PHASEYE FMC-64全聚焦超聲波相控陣探傷儀64/128PR、超聲波探傷儀（復合材料粘接檢測儀BondMaster 1000e+、超聲探傷儀EPOCH XT、超聲探傷儀EPOCH 600、超聲探傷儀EPOCH LTC、超聲波TOFD相控陣OmniScan MX2、超聲波相控陣OmniScan X3超聲波TOFD相控陣Omniscan SX、超聲探傷儀EPOCH 1000系列、超聲波點焊檢測系統USLT USB、超聲波點焊檢測儀SpotChecker、超聲波相控陣點焊檢測儀NEXTSPOT600、超聲波相控陣點焊檢測儀NEXTSPOT300、超聲波探傷儀USN60、超聲波探傷儀USM 36、便攜式超聲波探傷儀USM go+）

探頭線、探頭、各種檢測試塊

測厚儀（MAGNA-MIKE 8600霍爾效應測厚儀、45MG超聲波測厚儀、高級多功能超聲波測厚儀38DL PLUS、經濟型超聲波測厚儀27MG、35RDC復合材料粘接檢測儀、便攜式MG2系列腐蝕測厚儀、超聲波測厚儀DM5E、測厚儀CL5）

光譜分析儀（Vanta手持式XRF分析儀、DELTA Professional合金分析儀、DELTA Element分析儀）

工業視頻內窺鏡（EFER FLASH 900、 IPLEX NX、IPLEX GX/GT、IPLEX G Lite、IPLEX TX、IPLEX YS）、法國EFER紫外熒光內窺鏡、磁粉探傷機、反差增強劑，滲透劑等磁粉滲透設備。

我公司維修以下超聲波設備：26mg壁厚儀檢測、售后維修27mg測厚儀、45MG測厚儀檢修、38DL PLUS測厚儀操作手冊、MAGNA-MIKE 8600測厚儀操作視頻、DM5E測厚儀、CL5測厚儀、EPOCH XT探傷儀、售后維修EPOCH 600探傷儀、售后維修EPOCH LTC探傷儀、維修OmniScan MX2相控陣探傷儀、售后維修Ominscan SX相控陣探傷儀、售后維修Phasor相控陣探傷儀、售后維修EPOCH 1000探傷儀、售后維修USN60探傷儀、USM 36探傷儀、USMgo+探傷儀、epoch 6LT探傷儀、EPOCH 650探傷儀

Olympus超聲測厚儀38DL PLUS

性能、操作簡便、堅固耐用、結果可靠

38DL PLUS測厚儀是一款超聲測厚技術新時代的創儀器。這款手持式測厚儀可有效地適用于幾乎各種超聲測厚應用，而且與幾乎各種雙晶探頭和單晶探頭完全兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應用，包括使用雙晶探頭對內壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的非常的壁厚測量。
Olympus超聲測厚儀38DL PLUS：

Olympus超聲測厚儀38DL PLUS測厚儀的標準配置帶有很多性能強大又易于使用的測量功能，以及許多專用于某些特定應用的軟件選項。其密封機殼的設計符合IP67評級要求，可以在非常潮濕或暴土揚沙的嚴酷環境中正常操作。其彩色透反VGA顯示屏無論在明亮的陽光下還是在無光的黑暗中都具有非常好的可視性。測厚儀的鍵區非常簡潔，且符合人體工程學的要求，操作人員使用單手（左手或右手）操控鍵區，就可以輕松訪問儀器的所有功能。
Olympus 超聲測厚儀（38DL PLUS）:

主要特性

· 可與雙晶探頭和單晶探頭兼容

· 寬泛的厚度測量范圍：0.08毫米到635毫米，具體可測厚度根據材料和所選探頭而定

· 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚操作

· 穿透涂層（THRU-COAT）和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料

· 內部氧化層/沉積物軟件選項

· 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米

· 在使用頻率范圍為2.25 MHz ～ 30 MHz的單晶探頭時，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量

· 多層軟件選項可同時對多層材料的各層進行厚度測量，多可同時測量4層

· 高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料

· 厚度、聲速和渡越時間的測量

· 差分模式和縮減率模式

· 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可回顧的讀數

· 帶有數字式濾波器的奧林巴斯高動態增益技術

· 用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能

· 設計符合EN15317標準

38-link無線通信適配器

可選配的38-link適配器，通過藍牙（Bluetooth）技術或無線局域網連接方式，可以使操作人員在任何現有的38DL PLUS儀器和其它設備之間傳送和接收數據。

38-link適配器具有3種強大的無線通訊能力：

· 與奧林巴斯科學云系統（OSC）進行無線通信

· 通過藍牙技術與奧林巴斯鏈接移動應用程序或其他相兼容的第三方應用程序進行通信

· 通過藍牙技術與可選配的link-Wedge軟件進行通信，以直接將厚度讀數發送到運行Windows 10的PC機中的激活的Windows應用程序中。

技術規格

測量	雙晶探頭測量模式	從激勵脈沖后的延時到個回波之間的時間間隔。
	穿透涂層測量模式	利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度。
	穿透漆層回波到回波測量模式	在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
	單晶探頭測量模式	模式1：激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。 模式2：延遲線回波與個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。 模式3：在激勵脈沖之后，位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。 氧化層模式：可選。 多層模式：可選。
	厚度范圍	0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。
	材料聲速范圍	0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
	分辨率（可選擇）	低分辨率：0.1毫米 標準分辨率：0.01毫米 高分辨率（可選項）：0.001毫米
	探頭頻率范圍	標準：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB） 高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
一般規格	工作溫度范圍	-10°C～50°C
	鍵區	密封、以色彩區分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋。
	機殼	防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼；機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。
	外型尺寸（寬 x 高 x 厚）	總體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米
	重量	0.814公斤
	電源	AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節AA輔助電池。
	鋰離子電池供電時間	工作時間：少12.6小時，一般14小時，多14.7小時。快速充電：2小時到3小時。
	標準	設計符合EN15317標準。
顯示	彩色透反VGA顯示	液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米
	檢波	全波、RF波、正半波、負半波
輸入/輸出	USB	1.0從接口。
	RS-232	有。
	存儲卡	大容量：2 GB外置microSD存儲卡。
	視頻輸出	VGA輸出標準。
內置數據記錄器	數據記錄器	38DL PLUS通過標準RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。
	容量	475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形。
	文件名稱、ID編碼及注釋	32位字符的文件名，20位字符的字母數字位碼，每個位有四個注釋。
	文件結構	9個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構。
	報告	機載報告總結了數據統計、帶有位置信息的小值/大值、小值回顧、文件比較及報警報告。

如有需要Olympus 超聲測厚儀（38DL PLUS）歡迎致電聯系，將為您提供專業的技術交流演示和配置方案。

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