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日本日置-IM3536-LCR測試儀
DC，4Hz~8MHz測量頻率，今后的標(biāo)桿產(chǎn)品 ● 測量頻率DC，4Hz~8MHz ● 測量時(shí)間：快1ms ● 基本精度：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測量 ● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測量 ● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中 基本參數(shù) 測量模式 LCR（單一條件下測量），
日本日置-IM3536-LCR測試儀
連續(xù)測量（保存條件下連續(xù)測量） 測量參數(shù) Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε 測量量程 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數(shù)由Z規(guī)定） 顯示范圍 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
日本日置-IM3536-LCR測試儀
基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ） 測量頻率 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進(jìn)) 測量信號電平 [V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (zui大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (zui大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (zui大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (zui大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (zui大1 V) [CC模式]的[低Z模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (zui大1 V) [直流電阻測量]: 1 V固定 DC偏壓 發(fā)生范圍：DC電壓0~2.50 V (低Z模式時(shí)0 ~1 V) 輸出阻抗 通常模式：100 Ω, 低Z模式: 10 Ω 顯示 彩色TFT5.7英寸，觸摸屏 功能 比較器、BIN測量（2個項(xiàng)目10種分類），觸發(fā)功能、開路·短路補(bǔ)償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能 接口 EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出 電源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA  
IM3536-LCR測試儀               
體積及重量 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg 附件 電源線×1,使用說明書×1,CD-R（通訊說明書，LCR應(yīng)用光盤）×1 探頭·治具 SMD測試治具IM9100 直接連接型，底部有電SMD用，DC～8MHz，可測量樣品尺寸：0402～1005（JIS） 4端子開爾文夾9140-10 DC~200kH，50 Ω，1 m長 測試治具9261-10 線長1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可測端口直徑：0.3~1.5mm 測試治具9262 DC～8 MHz, 直接連接型 SMD測試治具9263 直接連接型, DC～5 MHz 測試尺寸: 1mm～10.0mm



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