天瑞X射線熒光光譜儀性能

       EDX-1800B能量色散X射線熒光光譜儀應用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質和半導體以及各種合金、貴金屬成份分析.

       X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象，適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。特別是在RoHS檢測領域應用得zui多也zui廣泛。 X射線熒光光譜儀的優點：
 1) 分析速度快。測定用時與測定度有關，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。2) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。3) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。4) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。5) 分析度高。目前含量測定已經達到ppm級別。6) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。