鍍層膜厚儀800A工作原理

從X熒光分析測量原理可以看出鍍層被激發區的特征X射線的強度與鍍層和涂層元素含量多少成正比。在一定被激發區的測量區域內，鍍層和涂層元素百分比含量是固定的，因而所測得的X熒光強度與該測量范圍鍍層和涂層的厚度成一定正比例關系。在一定的厚度范圍內，鍍層和涂層的厚度與激發區的特征X射線的強度成正比例關系，因此只要測量該范圍內的X熒光強度值，即可算出鍍層和涂層的厚度。
根據X熒光分析測量原理，當放射性同位素源或X射線發生器（X射線管）放出的X射線照射到鍍層和涂層時，其不但能夠激發此鍍層和涂層產生相應的鍍層和涂層的特征X射線，也能夠激發基材產生相應基材的特征X射線。因此不但能夠測量鍍層和涂層的特征X射線，也可以測量基材產生基材的特征X射線來計算鍍層和涂層的厚度。
Thick800A測厚儀是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。性能特點滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護